微觀譜圖分析 ? 組成元素分析
定性定量分析 ? 組成成分分析
性能質(zhì)量 ? 含量成分
爆炸極限 ? 組分分析
理化指標(biāo) ? 衛(wèi)生指標(biāo) ? 微生物指標(biāo)
理化指標(biāo) ? 微生物指標(biāo) ? 儀器分析
安定性檢測(cè) ? 理化指標(biāo)檢測(cè)
產(chǎn)品研發(fā) ? 產(chǎn)品改善
國(guó)標(biāo)測(cè)試 ? 行標(biāo)測(cè)試
中析研究所檢測(cè)中心
400-635-0567
中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
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北京市豐臺(tái)區(qū)航豐路8號(hào)院1號(hào)樓1層121[可寄樣]
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報(bào)告問(wèn)題解答:
010-8646-0567
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成分分析,配方還原,食品檢測(cè),藥品檢測(cè),化妝品檢測(cè),環(huán)境檢測(cè),性能檢測(cè),耐熱性檢測(cè),安全性能檢測(cè),水質(zhì)檢測(cè),氣體檢測(cè),工業(yè)問(wèn)題診斷,未知成分分析,塑料檢測(cè),橡膠檢測(cè),金屬元素檢測(cè),礦石檢測(cè),有毒有害檢測(cè),土壤檢測(cè),msds報(bào)告編寫(xiě)等。
發(fā)布時(shí)間:2025-07-04
關(guān)鍵詞:實(shí)時(shí)時(shí)鐘器件測(cè)試案例,實(shí)時(shí)時(shí)鐘器件測(cè)試周期,實(shí)時(shí)時(shí)鐘器件測(cè)試儀器
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來(lái)源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所
因業(yè)務(wù)調(diào)整,部分個(gè)人測(cè)試暫不接受委托,望見(jiàn)諒。
頻率精度:校準(zhǔn)32.768kHz基頻輸出偏差,測(cè)量范圍±0.5ppm~±100ppm,溫補(bǔ)型RTC典型要求≤±3ppm
溫度特性:驗(yàn)證-40℃至+85℃工作區(qū)間的頻率漂移,記錄溫度系數(shù)(如±0.04ppm/℃2),執(zhí)行梯度測(cè)試每5℃階躍
電壓特性:標(biāo)稱電壓±10%波動(dòng)下頻率穩(wěn)定性測(cè)試,允許偏差≤±5ppm(3.3V系統(tǒng))
啟動(dòng)時(shí)間:上電至首次有效時(shí)鐘輸出時(shí)長(zhǎng)測(cè)定,工業(yè)級(jí)器件標(biāo)準(zhǔn)要求≤2秒
保持電流:休眠模式功耗檢測(cè),測(cè)試分辨率0.1μA,車(chē)規(guī)級(jí)器件典型值≤0.8μA@25℃
時(shí)鐘保持電壓:維持計(jì)時(shí)數(shù)據(jù)的最低工作電壓驗(yàn)證,閾值范圍1.0V~1.8V,精度±50mV
閏年補(bǔ)償:自動(dòng)處理2100年前日期數(shù)據(jù),測(cè)試周期≥4年連續(xù)模擬
抗干擾能力:施加200V/m電磁場(chǎng)干擾,時(shí)鐘偏移容差≤±1秒/24小時(shí)
長(zhǎng)期穩(wěn)定性:持續(xù)運(yùn)行30天時(shí)間累計(jì)誤差檢測(cè),高精度器件要求≤±2秒
輸出波形:方波信號(hào)占空比(45%~55%)及上升時(shí)間(≤100ns)測(cè)量
振動(dòng)敏感性:10Hz~2kHz掃頻振動(dòng)下頻率波動(dòng)檢測(cè),容差<0.1ppm
老化率:加速壽命試驗(yàn)評(píng)估年度頻率偏移,陶瓷封裝器件標(biāo)準(zhǔn)≤±3ppm/年
石英晶體諧振器:壓電材料頻率基準(zhǔn)源,檢測(cè)切角精度與電極特性
CMOS實(shí)時(shí)時(shí)鐘芯片:集成電路核心器件,驗(yàn)證溫度補(bǔ)償算法有效性
TCXO溫補(bǔ)晶振模塊:含溫度傳感的封裝體,重點(diǎn)測(cè)試-30℃~+70℃區(qū)間穩(wěn)定性
汽車(chē)電子時(shí)鐘:滿足AEC-Q100認(rèn)證的車(chē)規(guī)級(jí)模塊,強(qiáng)化-40℃~125℃極端溫變測(cè)試
工業(yè)PLC計(jì)時(shí)單元:可編程控制器內(nèi)置時(shí)鐘,執(zhí)行EMCⅢ級(jí)抗干擾驗(yàn)證
智能電表計(jì)時(shí)模組:電網(wǎng)收費(fèi)系統(tǒng)關(guān)鍵部件,進(jìn)行365天持續(xù)運(yùn)行可靠性試驗(yàn)
醫(yī)療設(shè)備時(shí)鐘:心電圖機(jī)等Ⅱ類設(shè)備,按YY0505標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)射頻輻射抗擾度
衛(wèi)星授時(shí)模塊:航天級(jí)原子鐘輔助系統(tǒng),增加真空環(huán)境與輻射加固測(cè)試
物聯(lián)網(wǎng)傳感器節(jié)點(diǎn):紐扣電池供電設(shè)備,微安級(jí)功耗特性驗(yàn)證
5G基站同步單元:網(wǎng)絡(luò)時(shí)間協(xié)議(NTP)硬件支持,納秒級(jí)時(shí)間保持精度檢測(cè)
金融終端時(shí)間戳:POS機(jī)交易認(rèn)證模塊,符合PCI-PTS物理安全檢測(cè)規(guī)范
可穿戴設(shè)備時(shí)鐘:智能手表等消費(fèi)電子產(chǎn)品,跌落沖擊后功能一致性測(cè)試
IEC 60122-1:石英振蕩器測(cè)試基本方法
GB/T 14280-2019:石英晶體元件參數(shù)測(cè)量國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)
ISO 9001:2015:質(zhì)量體系中的元器件檢驗(yàn)流程規(guī)范
GB/T 15510-2008:控制用電磁繼電器可靠性試驗(yàn)通則
ASTM F1803:微電子器件溫度循環(huán)加速試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)
MIL-STD-883K:微電路環(huán)境試驗(yàn)方法(Method 1015溫度特性)
GB/T 17626.2-2018:靜電放電抗擾度試驗(yàn)
JESD22-A104F:溫度循環(huán)壽命驗(yàn)證標(biāo)準(zhǔn)
IEC 61326-1:工業(yè)環(huán)境電磁兼容性通用要求
GB/T 2423.10-2019:振動(dòng)(正弦)試驗(yàn)導(dǎo)則
高精度頻率計(jì):分辨率0.001Hz,實(shí)時(shí)捕獲32.768kHz信號(hào)瞬時(shí)頻偏
恒溫恒濕試驗(yàn)箱:溫控精度±0.3℃,支持-70℃~+180℃梯度測(cè)試
源測(cè)量單元(SMU):四象限電源輸出,掃描測(cè)試電壓-頻率特性曲線
電磁兼容測(cè)試系統(tǒng):含EMI接收機(jī)與電波暗室,執(zhí)行IEC 61000-4-3輻射抗擾度試驗(yàn)
納安級(jí)功耗分析儀:電流測(cè)量下限0.1nA,記錄休眠模式微電流波動(dòng)
三軸振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái):最大加速度100gn,模擬運(yùn)輸環(huán)境機(jī)械應(yīng)力
時(shí)間間隔分析儀:20ps分辨率,量化時(shí)鐘信號(hào)上升時(shí)間與抖動(dòng)
快速溫變?cè)囼?yàn)機(jī):溫變速率15℃/分鐘,驗(yàn)證熱沖擊性能
靜電放電模擬器:30kV脈沖輸出,依據(jù)IEC 61000-4-2進(jìn)行接觸放電測(cè)試
多通道老化系統(tǒng):并行監(jiān)測(cè)100組器件,執(zhí)行2000小時(shí)持續(xù)運(yùn)行試驗(yàn)
1、咨詢:提品資料(說(shuō)明書(shū)、規(guī)格書(shū)等)
2、確認(rèn)檢測(cè)用途及項(xiàng)目要求
3、填寫(xiě)檢測(cè)申請(qǐng)表(含公司信息及產(chǎn)品必要信息)
4、按要求寄送樣品(部分可上門(mén)取樣/檢測(cè))
5、收到樣品,安排費(fèi)用后進(jìn)行樣品檢測(cè)
6、檢測(cè)出相關(guān)數(shù)據(jù),編寫(xiě)報(bào)告草件,確認(rèn)信息是否無(wú)誤
7、確認(rèn)完畢后出具報(bào)告正式件
8、寄送報(bào)告原件