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粒度分析檢測

發(fā)布時間:2025-04-22

關(guān)鍵詞:粒度分析檢測

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來源:北京中科光析科學(xué)技術(shù)研究所

文章簡介:

中科光析科學(xué)技術(shù)研究所可依據(jù)相應(yīng)粒度分析檢測標準進行各種服務(wù),亦可根據(jù)客戶需求設(shè)計方案,為客戶提供非標檢測服務(wù)。檢測費用需結(jié)合客戶檢測需求以及實驗復(fù)雜程度進行報價。
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粒度分析檢測技術(shù)概述

簡介

粒度分析是通過對顆粒材料的粒徑、分布及形貌等特征進行定量化表征,以揭示材料的物理化學(xué)性質(zhì)及工藝性能的關(guān)鍵檢測手段。隨著材料科學(xué)與工業(yè)技術(shù)的快速發(fā)展,粒度分析在化工、制藥、冶金、環(huán)保、食品及新能源等領(lǐng)域中發(fā)揮著不可替代的作用。通過對顆粒體系的精確測量,粒度分析能夠為產(chǎn)品質(zhì)量控制、工藝優(yōu)化及新產(chǎn)品研發(fā)提供科學(xué)依據(jù)。

檢測項目及簡介

  1. 粒徑分布分析 粒徑分布是粒度分析的核心指標,用于描述顆粒體系中不同粒徑顆粒的占比情況。通過統(tǒng)計顆粒的累積分布或頻率分布,可判斷材料的均勻性、分散性及加工適用性。常見的表征參數(shù)包括D10、D50(中位徑)及D90。

  2. 顆粒形貌表征 通過顯微鏡或圖像分析技術(shù),對顆粒的形狀、表面粗糙度及長徑比等進行定性或半定量分析。形貌特征直接影響材料的流動性、填充密度及化學(xué)反應(yīng)活性。

  3. 比表面積測定 基于氣體吸附法(如BET法)或流體透過法,測定單位質(zhì)量顆粒的總表面積。比表面積與顆粒的吸附性能、催化活性及溶解速率密切相關(guān)。

  4. 團聚狀態(tài)評估 檢測顆粒在介質(zhì)中的分散狀態(tài),判斷是否存在團聚或絮凝現(xiàn)象,對納米材料、涂料及懸浮液的穩(wěn)定性評價尤為重要。

適用范圍

粒度分析技術(shù)廣泛應(yīng)用于以下領(lǐng)域:

  • 制藥行業(yè):評估原料藥及輔料的粒徑均一性,確保片劑溶出度與生物利用度達標。
  • 化工材料:優(yōu)化催化劑、顏料及高分子材料的顆粒特性,提升產(chǎn)品性能。
  • 環(huán)境監(jiān)測:分析大氣顆粒物(PM2.5/PM10)及污水懸浮物,評估環(huán)境污染程度。
  • 新能源領(lǐng)域:表征鋰離子電池正負極材料、光伏材料的粒度分布,提高能量轉(zhuǎn)換效率。
  • 食品工業(yè):控制粉末食品(如奶粉、咖啡)的顆粒大小,改善溶解性與口感。

檢測參考標準

粒度分析需遵循國內(nèi)外權(quán)威標準,確保數(shù)據(jù)的可比性與可靠性,主要標準包括:

  1. ISO 13320:2020 Particle size analysis — Laser diffraction methods 規(guī)定激光衍射法的操作流程及數(shù)據(jù)處理要求,適用于0.1 μm至3 mm范圍內(nèi)的顆粒分析。
  2. GB/T 19077-2016 Particle size analysis — Sieving method 篩分法的國家標準,適用于大于20 μm的顆粒分級測定。
  3. ISO 22412:2017 Particle size analysis — Dynamic light scattering (DLS) 動態(tài)光散射法的實施規(guī)范,專用于納米顆粒(1 nm至1 μm)的粒徑與分散性分析。
  4. ASTM B822-20 Standard Test Method for Particle Size Distribution of Metal Powders and Related Compounds by Light Scattering 針對金屬粉末的激光散射法檢測標準。

檢測方法及相關(guān)儀器

  1. 激光衍射法

    • 原理:依據(jù)顆粒對激光的散射角度與強度反演粒徑分布,基于Mie散射理論或Fraunhofer近似模型計算。
    • 儀器:馬爾文帕納科(Malvern Panalytical)Mastersizer 3000、貝克曼庫爾特(Beckman Coulter)LS 13 320。
    • 特點:檢測范圍寬(0.01–3500 μm),重復(fù)性好,適用于乳液、懸浮液及干粉樣品。
  2. 動態(tài)光散射法(DLS)

    • 原理:通過檢測溶液中顆粒布朗運動引起的散射光波動,推算粒徑及分布。
    • 儀器:馬爾文Zetasizer Nano系列、布魯克海文(Brookhaven)BI-90Plus。
    • 特點:專精納米顆粒分析,可同步測定Zeta電位,適用于膠體與生物大分子研究。
  3. 圖像分析法

    • 原理:結(jié)合光學(xué)/電子顯微鏡與圖像處理軟件,直接觀測并統(tǒng)計顆粒形貌與尺寸。
    • 儀器:卡爾蔡司(Carl Zeiss)掃描電鏡(SEM)、麥奇克(Microtrac)CAMSIZER X2。
    • 特點:提供直觀形貌信息,但統(tǒng)計樣本量較小,需配合其他方法使用。
  4. 沉降法

    • 原理:基于斯托克斯定律,通過顆粒在重力或離心力場中的沉降速率計算粒徑。
    • 儀器:麥克默瑞提克(Micromeritics)Sedigraph III 5120。
    • 特點:適用于高密度或?qū)挿植紭悠?,但檢測周期較長。

結(jié)語

粒度分析作為材料表征的基礎(chǔ)技術(shù),其方法選擇需結(jié)合樣品特性與檢測目標。隨著智能化檢測設(shè)備與多模態(tài)聯(lián)用技術(shù)的發(fā)展,未來粒度分析將更高效、精準地服務(wù)于高端制造與科研創(chuàng)新。通過標準化操作與數(shù)據(jù)解讀,企業(yè)可顯著提升產(chǎn)品質(zhì)量,降低研發(fā)成本,并在市場競爭中占據(jù)技術(shù)制高點。

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